На форуме кто-то предложил замыкать линии данных по очереди у чипов и прогонять тест, если линии перемкнули у исправного чипа, то как следствие MATS определит еще один неисправный чип. Ну и если линии данных перемкнули, а в отчете неисправным остался один и тот же чип, то этот чип как раз и нужно менять.
На форуме кто-то предложил замыкать линии данных по очереди у чипов и прогонять тест, если линии перемкнули у исправного чипа, то как следствие MATS определит еще один неисправный чип. Ну и если линии данных перемкнули, а в отчете неисправным остался один и тот же чип, то этот чип как раз и нужно менять.